Détermination expérimentale de la variation de phase ψT subie par la lumière à la traversée des couches métalliques minces en vue d'applications à l'apodisation

Abstract
We determine ψT by the spatial frequency response function B(ν) of a square glass plate metallised on half its width (thickness of the metal layer : e, transmission T). The imaginary part of B(ν) gives us (T/2) sin (ψT + 2πe/λ), its real part: (T/2) cos (ψT + 2πe/λ). The device proposed by Hacking is used for determining the Fourier transform of the diffraction function, i.e B(ν). We finally find that φ = ψT + 2πe/λ has little effect on the quality of an apodiser.

Résumé
Nous déterminons ψT par l'intermédiaire de la fonction de filtrage B(ν) d'une lame de verre carrée métallisée sur l'une de ses moitiés (épaisseur du métal e, transmission T). La composante imaginaire de B(ν) nous fournit (T/2) sin (ψT + 2π e/λ), la composante réelle (T/2) cos (ψT + 2π e/λ). Le montage de Hacking que nous utilisons nous fournit B(ν) sous la forme de la transformée de Fourier de l'intensité diffractée. Un exemple simple montre que le terme de phase φ = ψT + 2π e/λ a relativement peu d'influence sur la qualité d'un apodiseur.