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J. Phys. France
Volume 25, Numéro 1-2, janvier-février 1964
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Page(s) | 21 - 24 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphys:01964002501-202100 |
DOI: 10.1051/jphys:01964002501-202100
Détermination par spectrophotométrie par immersion des constantes optiques de films interférentiels d'oxyde anodique sur support en tantale
Walton P. Ellis Abstract
Immersion of an in situ interférence film into a liquid alters the optics by diminishing the amplitude of the wave vector reflected at the medium film interface. With interference layers of anodic oxide on tantalum, immersion into liquids of progressively higher refractive indices decreases the degree of interference in a regular fashion. From an analysis of the spectrophotometrically determined interférence peak heights, the refractive index of anodically formed tantalum oxide was obtained for différent orders of interférence in the wavelength range 4 000 - 6 100 Å.
Résumé
L'immersion d'un film interférentiel in situ dans un liquide modifie ses propriétés optiques par la diminution de l'amplitude du vecteur d onde réfléchi à l'interface milieu-couche. Avec des couches interférentielles obtenues par oxydation anodique d'un support de tantale, l'immersion dans des liquides d'indice de réfraction progressivement croissant diminue le contraste des interférence d'une manière régulière. On a obtenu, par une analyse des maximums d'interférences déterminés par une méthode spectrophotométrique, l'indice de réfraction d'un oxyde de tantale anodique pour différents ordres d'interférence dans le domaine spectral 4 000 - 6 100 Å.
4279W - Optical coatings.
7820C - Optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity).
Key words
optical films -- refractive index -- spectrophotometry -- tantalum compounds