Numéro |
J. Phys. France
Volume 29, Numéro 11-12, novembre-décembre 1968
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Page(s) | 1005 - 1008 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphys:019680029011-120100500 |
J. Phys. France 29, 1005-1008 (1968)
DOI: 10.1051/jphys:019680029011-120100500
Groupe associé n° 3 du C.N.R.S., Département de Recherches Physiques, Faculté des Sciences de Paris
4225G - Edge and boundary effects; reflection and refraction.
Key words
Electromagnetic wave reflection -- Reflectivity -- Absorbing media -- Attenuated total reflection
DOI: 10.1051/jphys:019680029011-120100500
Étude des formules de réflexion a la surface d'un milieu absorbant dans le cas des faibles absorptions application a la méthode de réflexion totale atténuée
J. Dayet et J. Vincent-GeisseGroupe associé n° 3 du C.N.R.S., Département de Recherches Physiques, Faculté des Sciences de Paris
Abstract
Expressions for the reflectivity at the surface of an absorbing medium are applied to the study of the special case of weak absorption and a sufficiently large angle of incidence. Some practical conclusions are given, with regard to the conditions of application of the attenuated total reflection method.
Résumé
On applique les formules générales donnant le facteur de réflexion à la surface d'un milieu absorbant, à l'étude d'un cas particulier correspondant à une absorption faible et à un angle d'incidence assez grand. On en tire ensuite quelques conclusions pratiques relatives aux conditions d'application de la méthode de réflexion totale atténuée.
4225G - Edge and boundary effects; reflection and refraction.
Key words
Electromagnetic wave reflection -- Reflectivity -- Absorbing media -- Attenuated total reflection