Numéro
J. Phys. France
Volume 48, Numéro 2, février 1987
Page(s) 261 - 266
DOI https://doi.org/10.1051/jphys:01987004802026100
J. Phys. France 48, 261-266 (1987)
DOI: 10.1051/jphys:01987004802026100

Influence of the charge state of 1.16 MeV/u incident ions on the desorption process

S. Della-Negra1, O. Becker2, R. Cotter3, Y. Le Beyec1, B. Monart1, K. Standing4 et K. Wien2

1  Institut de Physique Nucléaire, B.P. N° 1, F-91406 Orsay, France
2  Institut für Kernphysik, Darmstadt, F.R.G.
3  John Hopkins University, School of Medicine, Baltimore, U.S.A.
4  University of Manitoba, Winnipeg, Canada


Abstract
The heavy ion linear accelerator of the Institut de Physique Nucléaire has been used to study the influence of the projectile charge state q i on secondary ion emission. Ions of Ne, Ar or Kr with a velocity of 1.16 MeV/u bombarded thin films of organic and inorganic solids. The experimental arrangement is described. The ion emission yield is strongly dependent on the charge state of the incident ion qi and of its atomic number (nature of the projectile). The emission yield between the three types of projectiles varies as q4eq where q eq is the equilibrium charge state within the material for each projectile.


Résumé
L'accélérateur linéaire d'ions lourds de l'Institut de Physique Nucléaire d'Orsay a été utilisé pour étudier l'influence de l'état de charge incident qi des projectiles (ions Ne, Ar, Kr de 1,16 MeV/u) sur l'émission ionique secondaire à partir de films minces solides organiques et inorganiques. Le rendement d'émission ionique dépend fortement de l'état de charge qi de l'ion incident mais aussi de la nature du projectile (numéro atomique). La variation du rendement d'emission entre les trois types de projectiles est de la forme y ~ q4eq, qeq étant pour chaque projectile la charge d'équilibre calculée à l'intérieur du matériau.

PACS
6843M - Adsorption/desorption kinetics.
7920 - Impact phenomena (including electron spectra and sputtering).

Key words
argon -- desorption -- ion surface impact -- krypton -- neon -- secondary ion emission