Variation de l'émission photoélectrique de la silice lors de l'introduction de quelques impuretés

Abstract
The quantum yield of silica has been measured with an electronic camera. Quantum yield versus wavelength curves are given for pure silica and silica doped with germanium or aluminium.

Résumé
A l'aide de la caméra électronique Lallemand, on mesure le rendement quantique de la silice. On donne les courbes de variation du rendement photoélectrique en fonction de la longueur d'onde pour de la silice pure, dopée au germanium, et dopée à l'aluminium.