Numéro
J. Phys. France
Volume 25, Numéro 10, octobre 1964
Page(s) 855 - 858
DOI https://doi.org/10.1051/jphys:019640025010085500
J. Phys. France 25, 855-858 (1964)
DOI: 10.1051/jphys:019640025010085500

Facteur de réflexion de couches minces multiples comportant une couche diélectrique d'épaisseur variable

P. Giacomo

Faculté des Sciences de Caen


Abstract
At a fixed frequency, the Fresnel coefficient r deseribes a circle in the complex plane. The determination of the circle and location of the moving point, as a function of the thickness, is deduced, on a simple diagram, from three or even two calculated points only.


Résumé
Pour une fréquence donnée, le coefficient de Fresnel r décrit un cercle dans le plan complexe. La détermination de ce cercle et du point courant, en fonction de l'épaisseur, se déduit, sur un diagramme simple, du seul calcul de trois, ou même deux, points particuliers.

PACS
4279W - Optical coatings.
4225G - Edge and boundary effects; reflection and refraction.

Key words
optical films -- light reflection