| Numéro |
J. Phys. France
Volume 25, Numéro 1-2, janvier-février 1964
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | 46 - 50 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphys:01964002501-204600 | |
J. Phys. France 25, 46-50 (1964)
DOI: 10.1051/jphys:01964002501-204600
Institute of Optical Research, Stockholm 70, Sweden
8115 - Methods of deposition of films and coatings; film growth and epitaxy.
7820C - Optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity).
Key words
films -- refractive index
DOI: 10.1051/jphys:01964002501-204600
On the production and properties of inhomogeneous thin films
Roland JacobssonInstitute of Optical Research, Stockholm 70, Sweden
Abstract
The production of inhomogeneous thin films by evaporation using feedback control is discussed and the different types of resulting refractive index profiles considered. The optical properties are calculated by numerical integration of the wave-equation.
Résumé
La fabrication des couches minces inhomogènes par évaporation thermique en employant le contrôle automatique est discutée et les types différents des profils d'indice résultants sont considérés. Les propriétés optiques sont calculées par l'intégration numérique de l'équation d'onde.
8115 - Methods of deposition of films and coatings; film growth and epitaxy.
7820C - Optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity).
Key words
films -- refractive index