Numéro
J. Phys. France
Volume 25, Numéro 1-2, janvier-février 1964
Page(s) 268 - 274
DOI https://doi.org/10.1051/jphys:01964002501-2026800
J. Phys. France 25, 268-274 (1964)
DOI: 10.1051/jphys:01964002501-2026800

Simulateur électrique pour l'étude du comportement optique des empilements de couches minces diélectriques

R. Badoual et P. Giacomo

Faculté des Sciences de Caen


Abstract
In this simulator, the electric and magnetic fields of the light wave are represented, in amplitude and in phase, by a.c. voltages. Each layer in the film is simulated by an eight-terminal network ; the eight-terminal networks are connected in sequence. The instrument yields directly the reflectance and transmittance, amplitude and phase, with a relative accuracy better than 1 % by layer, even in unfavourable cases. Applications are given for one, two and six layers films.


Résumé
Dans ce simulateur, les champs électrique et magnétique de l'onde lumineuse sont représentés en amplitude et en phase par des tensions alternatives. Chaque couche est simulée par un octopole actif ; les octopoles sont branchés en cascade. L'appareil donne directement les facteurs de réflexion et de transmission en amplitude et en phase avec une précision relative meilleure que 1 % par couche, même dans des cas défavorables. Exemples d'applications avec une, deux et six couches.

PACS
4225B - Wave propagation, transmission and absorption.
4279W - Optical coatings.
7820C - Optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity).

Key words
dielectric measurement -- films