Étude de la répartition des pièges de phosphorescence dans un sulfure de zinc activé au cuivre nouvelles déterminations fondées sur l'extrapolation de la luminance en début de déclin

Abstract
The distribution of the electron traps that are involved in long-period phosphorescence can be obtained from an analysis of the decay law into sums of exponentials. This is well known, but the usual method for performing this analysis has some drawbacks, that are pointed out in the present paper. A new method is given which is more accurate and can be used for a detailed discussion on the gaussian shape of the trap-depths distribution.

Résumé
La décomposition en sommes d'exponentielles du déclin de l'intensité de phosphorescence en fonction du temps permet, comme il est bien connu, d'obtenir la répartition des pièges responsables de cette phosphorescence. Mais la méthode usuellement employée pour interpréter ces sommes d'exponentielles possède certains inconvénients rappelés dans le texte. Une nouvelle méthode, plus précise, est proposée ici pour déterminer la répartition des pièges : elle permet, en particulier, de discuter d'une manière plus approfondie la forme gaussienne des groupes de pièges.