Measurement of the thickness of thin metallic films with the help of interference fringes of equal chromatic order.
Mesure de l'épaisseur de films minces métalliques à l'aide de franges d'interférence d'égal ordre chromatique
et
J. Phys. France, 25 12 (1964) 1035-1040
DOI: 10.1051/jphys:0196400250120103500