Mesure de l'épaisseur de films minces métalliques à l'aide de franges d'interférence d'égal ordre chromatique

Abstract
The authors have measured thicknesses of silver thin films by using fringes of equal chromatic order : these were of low order (n varying from 3 to 30) and the effect of phase shift has been examined for low n especially. Interpreting the results shows the global shift Φ = Φ(λ) appearing in the interferometer as a linear function of λ ; the accuracy of the measurement is discussed and the authors also describe a method for obtaining accurate measurements of thickness.

Résumé
Les auteurs ont mesuré des épaisseurs de lames minces d'argent en utilisant des franges d'égal ordre chromatique. Ils ont réalisé ces mesures à l'aide de franges d'ordre bas (n variant de 3 à 30) et ont étudié l'effet des déphasages qui se manifestent surtout pour n petit. De l'interprétation des résultats, il apparaît qu'en première approximation le déphasage global Φ = Φ(λ) se produisant dans l'interféromètre est une fonction linéaire de λ; la précision des mesures est discutée et ils décrivent une méthode pour obtenir des mesures dépaisseur précises.