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Article cité :

Complete optical analysis of a non-absorbing thin film on an absorbing substrate by a new method of immersion spectroscopic reflectometry

I. Ohlídal and K. Navrátil
Thin Solid Films 148 (1) 17 (1987)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(87)90117-9

Application of Immersion Reflectometry to the Study of Interference Layers

W. P. Ellis, L. D. Allen and A. D. Mulford
Applied Optics 8 (11) 2177 (1969)
https://doi.org/10.1364/AO.8.002177

Refractive Indices of Fluoride Interference Films on Thorium Dioxide

Optica Acta: International Journal of Optics 11 (4) 287 (1964)
https://doi.org/10.1080/713817891