J. Phys. France 46, 1571-1579 (1985)
DOI: 10.1051/jphys:019850046090157100

Dégradation des monocristaux de polyéthylène en microscopie électronique entre 1 et 2,5 MV. I. Etude à température ambiante

A. Boudet et C. Roucau

Laboratoire d'Optique Electronique du C.N.R.S., 29, rue Jeanne Marvig, B.P. 4347, 31055 Toulouse Cedex, France

Abstract
The critical dose of electrons that destroys the crystallinity of polyethylene single crystals was measured for accelerating voltages between 1 and 2.5 MV. In this range, the critical dose remains nearly constant and is 3 times higher than at 100 kV. These results are fitted by a Bethe law corrected to take channelling into account. As a consequence, a critical energy of about 490 eV/nm3 is found. The channelling is more pronounced at lower voltages, at thicknesses of 20 nm and for particular orientations.

Résumé
On a pu mesurer la dose critique d'électrons qui détruit la cristallinité des monocristaux de polyéthylène, pour des tensions d'accélération entre 1 et 2,5 MV. Dans cette gamme d'énergie, la dose critique reste sensiblement constante et 3 fois plus grande qu'à 100 kV. On peut rendre compte de cette loi en calculant le pouvoir d'arrêt des électrons par la formule de Bethe corrigée pour tenir compte de la canalisation. On obtient alors une énergie critique de 490 eV/nm3 environ. La canalisation est plus importante pour les basses tensions, pour des épaisseurs moyennes (20 nm), et pour certaines orientations.

PACS
6180F - Electron and positron radiation effects.
6185 - Channeling phenomena (blocking, energy loss, etc.).

Key words
channelling -- electron beam effects -- electron microscope examination of materials -- polymers