Journal de Physique

Influence of interface charges on transport measurements in amorphous silicon films

I. Solomon, T. Dietl et D. Kaplan

J. Phys. France, 39 11 (1978) 1241-1246

DOI: 10.1051/jphys:0197800390110124100

I. Solomon

T. Dietl

D. Kaplan

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