Measurement of the half-life times of osmium 186, thallium 203, tungsten 182, and lead 207 excited levels
Mesure des vies moyennes de niveaux excités de l'osmium 186, du thallium 203, du tungstène 182 et du plomb 207
, et
J. Phys. France, 25 12 (1964) 989-992
DOI: 10.1051/jphys:019640025012098900