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Measurement of the thickness of thin metallic films with the help of interference fringes of equal chromatic order.
Mesure de l'épaisseur de films minces métalliques à l'aide de franges d'interférence d'égal ordre chromatique

J. Phys. France, 25 12 (1964) 1035-1040
DOI: https://doi.org/10.1051/jphys:0196400250120103500