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Article cité :

Localization of absorption losses in oxide single-layer films

E. Welsch, H.G. Walther, H.J. Kühn

J. Phys. France, 48 3 (1987) 419-424

DOI: https://doi.org/10.1051/jphys:01987004803041900

Citations de cet article :

Volume and interface absorptions of single layer

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Acta Physica Sinica 60 (4) 047802 (2011)
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Photothermal measurements on optical thin films

E. Welsch and D. Ristau
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Laser calorimeter for UV absorption measurement of dielectric thin films

N. K. Sahoo and K. V. S. R. Apparao
Applied Optics 31 (28) 6111 (1992)
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Separation of optical thin-film and substrate absorption by means of photothermal surface deformation technique

Eberhard Welsch, Heinz-Guenter Walther, Kerstin Friedrich and Peter Eckardt
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Photoacoustic, Photothermal and Photochemical Processes at Surfaces and in Thin Films

H. Coufal
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https://doi.org/10.1007/978-3-642-83945-0_5

Measurement of optical losses and damage resistance of ZnSNa3AlF6 and TiO2SiO2 laser mirrors depending on coating design

E. Welsch, H.G. Walther, D. Schäfer and R. Wolf
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Optical losses of sputtered Ta2O5 films

A. Duparré, E. Welsch, H.G. Walther, H.J. Kühn and G. Schirmer
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https://doi.org/10.1051/jphys:019870048070115500