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Citations de cet article :

Ion Beam Surface Layer Analysis

G. Deconninck and Y. Fouilhe
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Microanalysis of Si and S in GaSb by direct observation of resonant nuclear reactions

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Nuclear Instruments and Methods 97 (2) 211 (1971)
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Empirical formulae for energy loss straggling of ions in matter

Q. Yang, D.J. O'Connor and Zhonglie Wang
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Microanalysis of Si, S and Zn in GaSb by use of direct observation of (p, p′γ) reactions

J. F. Chemin, J. Roturier, B. Saboya and G. Y. Petit
Journal of Radioanalytical Chemistry 12 (2) 221 (1972)
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Introduction to Radioanalytical Physics

G. DECONNINCK
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Ac - Na

R. Flükiger and T. Wolf
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Ac - Na

J. L. Jorda
Landolt-Börnstein - Group III Condensed Matter, Ac - Na 21a 359 (1990)
DOI: 10.1007/10332996_93
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