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Article cité :

Study of the surface segregation of alkali metal impurities implanted in gallium arsenide
Étude de la ségrégation de surface d'impuretés alcalines implantées dans l'arséniure de gallium

F. Alexandre

J. Phys. France, 39 6 (1978) 701-710

DOI: https://doi.org/10.1051/jphys:01978003906070100

Citations de cet article :

Characterization of electronic devices and materials by surface-sensitive analytical techniques

P.H. Holloway and G.E. McGuire
Applications of Surface Science 4 (3-4) 410 (1980)
https://doi.org/10.1016/0378-5963(80)90088-4

Depth profiling by secondary ion mass spectrometry

E. Zinner
Scanning 3 (2) 57 (1980)
https://doi.org/10.1002/sca.4950030202