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Depth Profiling Biaxial Stresses in Sputter Deposited Molybdenum Films; Use of the Cos2φ Method

B. L. Ballard, P. K. Predecki, T. R. Watkins, et al.
Advances in X-ray Analysis 39 363 (1995)
https://doi.org/10.1154/S0376030800022771

Effets de taille quantiques dans le pouvoir thermoelectrique de couches minces de Bi et de BixSb1−x

M.P Favennec and M Le Contellec
Solid State Communications 13 (2) 141 (1973)
https://doi.org/10.1016/0038-1098(73)90212-3

Study of quantum size effects by elastoresistance, thermoelectric power and conductivity measurements in Bi and BixSb1−x

MME Favennec, M. Le Contellec and J.Y. Le Traon
Thin Solid Films 13 (1) 73 (1972)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(72)90157-5