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Excitation cross sections ofCd+ions for the upper and lower states of the Cd II 441.6-nm laser line by electron impact

K. Hane, T. Goto and S. Hattori
Physical Review A 27 (1) 124 (1983)
https://doi.org/10.1103/PhysRevA.27.124

Auger Electron Spectroscopy, SEM and Non-Dispersive X-Ray Analysis Techniques for Examination of Ag-CdO Contact Materials

A. Selzer, J. Dieball and D. Lichtman
IEEE Transactions on Parts, Hybrids, and Packaging 11 (2) 139 (1975)
https://doi.org/10.1109/TPHP.1975.1135050