Étude comparée de la structure de diverses couches minces d'or et d'aluminium, par diffraction électronique sous diverses incidences

Abstract
The orientation of crystallites in thin films of gold and aluminium is studied by electron diffraction under variable incidence. Some peculiarities of the diagrams can be explained by twinning or stacking faults.

Résumé
On étudie par diffraction électronique sous diverses incidences l'orientation des cristallites dans des couches minces d'or et d'aluminium. Les particularités observées dans les diagrammes peuvent être expliquées par la présence de macles ou de fautes d'empilement.