Numéro
J. Phys. France
Volume 25, Numéro 1-2, janvier-février 1964
Page(s) 74 - 77
DOI https://doi.org/10.1051/jphys:01964002501-207400
J. Phys. France 25, 74-77 (1964)
DOI: 10.1051/jphys:01964002501-207400

Détermination simultanée des indices et de l'épaisseur des couches minces absorbantes

Damien Malé

Laboratoire de Physique Moléculaire et Atomique de la Faculté des Sciences de Marseille


Abstract
Reasons are given why determinations of the indexes of metals in thin layers effected before 1950 should be repeated. A graphic method is described perfected by the author, of simultaneous determination of the indexes and the thickness of an absorbing thin layer. This method makes use of measurements effected at normal incidence of intensities and phase differences. The choice of the three necessary measurements is explained and the limit of the application of the method for extremely thin layers is indicated. The results obtained by the author and by other workers are reviewed.


Résumé
On donne les raisons pour lesquelles les déterminations des indices des métaux en couches minces faites avant 1950 sont à reprendre. On expose une méthode graphique, mise au point par l'auteur, de détermination simultanée des indices et de l'épaisseur d'une couche mince absorbante. Cette méthode utilise des mesures, faites en incidence normale, d'intensités et de déphasages. On explique le choix des trois mesures nécessaires et on indique la limite d'utilisation de la méthode pour les couches extrêmement minces. On passe en revue les résultats obtenus par l'auteur et par différentes expérimentateurs.

PACS
4279W - Optical coatings.
0760H - Refractometers and reflectometers.
0630B - Spatial dimensions (e.g., position, lengths, volume, angles, and displacements).

Key words
metals -- optical films -- refractive index measurement -- thickness measurement