Mesure des changements de phase par transmission introduits par des lames minces d'or sans support

Abstract
One describes an apparatus, consisting essentially of a Michelson interferometer, which measures by transmittance the phase changes, produced by unsupported thin films. The results obtained are presented for gold films having thicknesses between 50 and 110 mμ. The variations of the phase change by transmittance with respect to the wavelength and the thickness are studied. One finally gives the theoretical interpretation of the results for the thickest films.

Résumé
On décrit un appareil, composé essentiellement d'un interféromètre de Michelson, destiné à la mesure des changements de phase par transmission produits par des lames minces sans support. On donne les résultats obtenus pour des lames d'or d'épaisseurs comprises entre 50 et 110 mμ. On étudie les variations du changement de phase par transmission avec la longueur d'onde et avec l'épaisseur et l'on donne l'interprétation théorique des résultats relatifs aux lames les plus épaisses.