Journal de Physique

X-ray method for the structural investigation of thin organic films

F. Rieutord, J.J. Benattar et L. Bosio

J. Phys. France, 47 7 (1986) 1249-1256

DOI: 10.1051/jphys:019860047070124900

F. Rieutord

J.J. Benattar

L. Bosio

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