Journal de Physique

RHEED and REM study of Si(111) surface degradation under Ar bombardment

A. Claverie, J. Faure, C. Vieu, J. Beauvillain et B. Jouffrey

J. Phys. France, 47 10 (1986) 1805-1812

DOI: 10.1051/jphys:0198600470100180500

A. Claverie

J. Faure

C. Vieu

J. Beauvillain

B. Jouffrey

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