Simultaneous determination of the scattering parameter and the mean free path of the conduction electrons in thin films.
Détermination simultanée du paramètre de diffusion et du libre parcours moyen des électrons de conduction dans les couches minces
J. Phys. France, 25 1-2 (1964) 194-197
DOI: 10.1051/jphys:01964002501-2019401