A simple method for measuring the thickness a and refraction index of transparent films without impairing them.
Une technique simple pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction de couches transparentes sans les altérer
et
J. Phys. France, 25 1-2 (1964) 17-20
DOI: 10.1051/jphys:01964002501-201700