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Article cité :

Electronic structure of small fluorocarbon clusters FpCn (p = 1, 2) observed in secondary ionic mass spectrometry (SIMS). I. Stabilities

M. Leleyter

J. Phys. France, 48 11 (1987) 1963-1973

DOI: https://doi.org/10.1051/jphys:0198700480110196300

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Références

Citations de cet article :

ToF‐SIMS observation of PTFE surfaces modified by α‐particle irradiation

Gregory L. Fisher, James A. Ohlhausen and Christopher J. Wetteland
Surface and Interface Analysis 37 (9) 713 (2005)
https://doi.org/10.1002/sia.2068