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Characterisation by X-ray diffraction, electron microscopy and X-ray fluorescence of thin films obtained by evaporation of SmS. Crystallographic structures after annealing with an electron beam
Caractérisation par diffraction X, microscopie électronique et fluorescence X, des couches minces obtenues par évaporation de SmS. Structures cristallographiques après recuits par le faisceau électronique

M. Gasgnier, J.P. Sénateur

J. Phys. France, 41 10 (1980) 1127-1133

DOI: https://doi.org/10.1051/jphys:0198000410100112700

Citations de cet article :

Thermo-coloration of SmS thin flims by XPS in situ observation

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Complex crystallization phenomena in rare-earth binary alloys and compounds as thin films

M. Gasgnier
Physica Status Solidi (a) 80 (1) K1 (1983)
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Handbook on the Physics and Chemistry of Rare Earths Volume 5

M. Gasgnier
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Numerical simulation of spin-glass transition phenomena (invited)

R. E. Walstedt and L. R. Walker
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Monte Carlo Simulation of a Spin-Glass Transition

R. W. Walstedt and L. R. Walker
Physical Review Letters 47 (22) 1624 (1981)
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.47.1624