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D. M. Gruen, A. R. Krauss, M. J. Pellin and R. B. Wright Springer Series in Chemical Physics, Chemistry and Physics of Solid Surfaces IV 20 107 (1982) https://doi.org/10.1007/978-3-642-47495-8_5
J. C. Lorin, A. Havette and G. Slodzian Springer Series in Chemical Physics, Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III 19 140 (1982) https://doi.org/10.1007/978-3-642-88152-7_23
Quantitative secondary ion mass spectrometry: A review
Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976
H. W. Werner Mikrochimica Acta, Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 7 63 (1977) https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_4
Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976
F. G. Rüdenauer Mikrochimica Acta, Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 7 85 (1977) https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_5
Similarities in photon and ion emissions induced by sputtering
