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Article cité :

Optical properties of In2O3−SnO2 films in the transparent and plasma reflection region

J. Szczyrbowski, K. Schmalzbauer and H. Hoffmann
Thin Solid Films 137 (2) 169 (1986)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(86)90017-9

A comparison of optical and nuclear methods for the measurement of the thickness of thin metal foils

K. Muskalla, Th. Pfeiffer and W. Möller
Thin Solid Films 76 (3) 259 (1981)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(81)90696-9

Estimate of the effect of unevenness of surface layers on the optical properties of thin-layer coatings

I. M. Minkov
Journal of Applied Spectroscopy 25 (3) 1170 (1976)
https://doi.org/10.1007/BF00618038

Reflection of light on a system of non-absorbing isotropic film-non-absorbing isotropic substrate with rough boundaries

I. Ohlídal, K. Navrátil and F. Lukeš
Optics Communications 3 (1) 40 (1971)
https://doi.org/10.1016/0030-4018(71)90210-0

Reflection of Light by a System of Nonabsorbing Isotropic Film–Nonabsorbing Isotropic Substrate with Randomly Rough Boundaries

I. Ohlídal, K. Navrátil and F. Lukeš
Journal of the Optical Society of America 61 (12) 1630 (1971)
https://doi.org/10.1364/JOSA.61.001630

Nouveau procédé d'observation du profil et de l'état des surfaces par microscopie électronique; applications à l'optique

P. Bousquet, L. Capella, A. Fornier and J. Gonella
Applied Optics 8 (6) 1229 (1969)
https://doi.org/10.1364/AO.8.001229

Quelques Résultats Récents Concernant les Techniques de Préparation et L'étude Optique des Couches Minces Solides

P. Rouard and P. Bousquet
Optica Acta: International Journal of Optics 16 (6) 675 (1969)
https://doi.org/10.1080/713818229

Der einfluss von strukturunregelmässigkeiten beim zusammenwachsen zweier aufdampfschichten auf das schichtdickenmessverfahren mit hilfe von vielstrahl-interferenzen

Karl-Joseph Hanszen
Thin Solid Films 2 (5-6) 509 (1968)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(68)90064-3