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Article cité :

Use of thin films for the determination of the optical constants of absorbent crystals in the infrared.
Utilisation des couches minces a la détermination des constantes optiques de cristaux absorbants dans l'infrarouge

J. Vincent-Geisse

J. Phys. France, 25 1-2 (1964) 291-294

DOI: https://doi.org/10.1051/jphys:01964002501-2029100

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Citations de cet article :

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The optical properties of amorphous and crystalline germanium

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Spectral dependence of optical constants of heavily doped Si in region of plasma resonance of charge carriers

D. I. Bilenko, V. P. Polyanskaya and V. D. Tsiporukha
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Nouvelle méthode simple de détermination des constantes optiques de cristaux absorbants dans l'infrarouge application à quelques carbonates

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Use of an Evaporated Dielectric Film for Determining the Optical Constants of a Metal I

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Use of thin films for the determination of the optical constants of absorbent crystals in the infrared.Utilisation des couches minces a la détermination des constantes optiques de cristaux absorbants dans l'infrarouge

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Thermophysical Properties Research Literature Retrieval Guide 1900–1980

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The optical properties of amorphous and crystalline germanium

Spectral dependence of optical constants of heavily doped Si in region of plasma resonance of charge carriers

Validité de la Méthode de Kramers-Kronig et Application à la Dispersion Infrarouge de la Magnésie

Nouvelle méthode simple de détermination des constantes optiques de cristaux absorbants dans l'infrarouge application à quelques carbonates

Use of an Evaporated Dielectric Film for Determining the Optical Constants of a Metal I

Use of thin films for the determination of the optical constants of absorbent crystals in the infrared.
Utilisation des couches minces a la détermination des constantes optiques de cristaux absorbants dans l'infrarouge