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Article cité :

Simultaneous determination of the scattering parameter and the mean free path of the conduction electrons in thin films.
Détermination simultanée du paramètre de diffusion et du libre parcours moyen des électrons de conduction dans les couches minces

Marie-Luce Thêye

J. Phys. France, 25 1-2 (1964) 194-197

DOI: https://doi.org/10.1051/jphys:01964002501-2019401

Citations de cet article :

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