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A laser interference thickness Gage

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A VAMFO-CARIS method for determining thickness of transparent films with small number of interference extrema

B. Jordanov and L. Popova
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https://doi.org/10.1016/0038-1101(71)90154-7

Refractive Index of Thin Monocrystal Films of InSe

B. Čelustka, A. Peršin and D. Bidjin
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Phase‐Shift‐Corrected Thickness Determination of Silicon Dioxide on Silicon by Ultraviolet Interference

R. A. Wesson, R. P. Phillips and W. A. Pliskin
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