Numéro
J. Phys. France
Volume 25, Numéro 1-2, janvier-février 1964
Page(s) 114 - 118
DOI https://doi.org/10.1051/jphys:01964002501-2011400
J. Phys. France 25, 114-118 (1964)
DOI: 10.1051/jphys:01964002501-2011400

Optical constants of thin films from the characteristic electron energy losses

R.E. Lavilla et H. Mendlowitz

National Bureau of Standards, Washington, D. C.


Abstract
A method for obtaining the optical constants by employing the correlation between the characteristic electron energy absorption spectrum of a substance with its optical properties is described. This method is applied to a study of the optical properties in the far ultraviolet of aluminum, a metal, and of polystyrene, an organic compound. The information that is derived by this method lends itself to a study of the optical oscillator strengths.


Résumé
On décrit une méthode-permettant d'obtenir les constantes optiques à l'aide de la corrélation entre le spectre caractéristique d'absorption de l'énergie électronique d'une substance et ses propriétés optiques. Cette méthode est appliquée à une étude des propriétés optiques, dans l'ultraviolet lointain, d'un métal, l'aluminium, et d'un composé organique, le polystyrène. L'information que l'on déduit de cette méthode se prête à une étude de l'oscillateur optique.

PACS
7820C - Optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity).
4279W - Optical coatings.

Key words
aluminium -- optical films -- polymers