Numéro
J. Phys. France
Volume 49, Numéro 4, avril 1988
Page(s) 689 - 695
DOI https://doi.org/10.1051/jphys:01988004904068900
J. Phys. France 49, 689-695 (1988)
DOI: 10.1051/jphys:01988004904068900

Evidence by X-ray scattering of defects in the lamellar stacking of the SmA phase of a side-chain polymer

P. Davidson et A.M. Levelut

Laboratoire de Physique des Solides, Associé au C.N.R.S., Bât. 510, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France


Abstract
An X-ray diffraction pattern in the SmA phase of a mesomorphic side chain polymethacrylate displays some unusual diffuse lines in addition to the elements already described. We account for these lines by introducing some defects which disturb the lamellar order. Such defects may be the places where the polymer main chain hops from one layer to an adjacent one.


Résumé
Nous avons effectué une expérience de diffusion des rayons X sur un polymère mésomorphe en peigne (polyméthacrylate) en phase smectique A. L'allure générale du cliché est classique ; toutefois, on repère l'existence d'intensité diffusée localisée sur des lignes inhabituelles. Nous expliquons l'apparition de cette intensité par la présence de défauts dans la phase SmA. Ces défauts pourraient être les zones où les chaînes principales sautent d'une couche à la suivante.

PACS
6130J - Defects in liquid crystals.

Key words
smectic liquid crystals -- X ray diffraction examination of materials