J. Phys. France 47, 1249-1256 (1986)
DOI: 10.1051/jphys:019860047070124900

X-ray method for the structural investigation of thin organic films

F. Rieutord¹, J.J. Benattar¹ et L. Bosio<sup>2

1</sup>  DPhG/SPSRM - CEN Saclay 91191 Gif-sur-Yvette Cedex, France
²  2Laboratoire CNRS « Physique des Liquides et Electrochimie » associé à l'Université Pierre et Marie Curie, T22, 4, Place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05, France

Abstract
The structures of thin lamellar films can be determined through a combination of three X-ray experiments using synchrotron radiation. Diffraction experiments in the transmission geometry give the intralamellar ordering, the diffraction at small glancing angles yields the interlamellar organization, and the critical reflection provides the density measurement which is required to obtain the number of structural units per cell. This method is illustrated here with the study of an organic compound deposited in Langmuir-Blodgett films.

Résumé
Nous montrons que la simple conjugaison de trois techniques conventionnelles de rayons X permet une étude structurale des films minces lamellaires. La diffraction en transmission du rayonnement synchrotron fournit une détermination de l'arrangement intra-lamellaire, la diffraction en réflexion à petits angles, celle de l'ordre inter-lamellaire et enfin la réflexion critique donne une mesure de la densité nécessaire à l'obtention du nombre d'unités structurales par maille. Nous présentons une illustration de cette méthode à travers l'étude d'un composé organique déposé en couches de Langmuir-Blodgett.

PACS
6110N - X-ray diffraction.
6855 - Thin film structure and morphology.

Key words
Langmuir Blodgett films -- organic compounds -- X ray diffraction examination of materials