J. Phys. France 46, 225-234 (1985)
DOI: 10.1051/jphys:01985004602022500

Défauts dans des phases lamellaires lyotropes observés par cryofracture et microscopie électronique

M. Allain

DTech/SESI, C.E.N. de Fontenay-aux-Roses, 92260 Fontenay-aux-Roses, et Laboratoire de Physique du Solide, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France

Abstract
Samples of aqueous solutions of C12EO5 and C 12EO6 have been quenched from various temperatures, cryofractured and then observed by electron microscopy. Analysis of micrographs shows that : i) the concentration of screw dislocations increases with temperature ; ii) screws of the same sign build walls ; iii) screws of opposite signs gather in pairs linked by a step to build dislocation loops which cross the layers. These defects are compared to highly curved defects revealed by E.P.R. in the same systems [1].

Résumé
Des échantillons de solutions aqueuses de C12EO5 et C12EO6 congelés depuis différentes températures ont été observés par microscopie électronique après cryofracture. Une analyse des micrographies montre que : i) la concentration de dislocations vis dans l'échantillon croît avec la température ; ii) les vis de même signe forment des parois ; iii) les vis s'assemblent deux par deux de signes opposés, liées par des dislocations coin pour former des boucles de dislocation traversant les lamelles. L'existence de ces défauts est rapprochée de l'observation de fortes courbures faites par R.P.E. dans les mêmes systèmes [1].

PACS
6130J - Defects in liquid crystals.
6210 - Mechanical properties of liquids.

Key words
dislocation loops -- electron microscope examination of materials -- fracture -- liquid crystals -- organic compounds -- screw dislocations