J. Phys. France 45, 1473-1477 (1984)
DOI: 10.1051/jphys:019840045090147300

Structure and molecular disorder in three modifications of a binary C23H48-C24H50 paraffin

A. Craievich¹, J. Doucet² et I. Denicoló<sup>3

1</sup>  Centro Brasileiro de Pesquisas Fisicas, Rio de Janeiro, Brazil
²  Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France
³  Departamenta de Fisica, Universidade Federal de Santa Catarina, Florianópolis, SC, Brazil

Abstract
The temperature dependence of the intensities of the (00l) X-ray reflections from a binary paraffin (C23H48-25 % C 24H50) was determined, in order to obtain structural parameters related to the molecular disorder and intramolecular defects. The long lattice spacing was also determined as a function of temperature. All these results are compared with the temperature dependence of the ratio of the two short lattice parameters. The clear correlation of all of these experimental results provides a close characterization of the molecular structures and their changes at the various solid state phase transitions.

Résumé
La dépendance en température des intensités des réflexions (00l) de la paraffine binaire (C23H48-25 % C24H50) a été déterminée afin d'en déduire des paramètres structuraux liés aux mouvements moléculaires et aux défauts intramoléculaires. La grande distance réticulaire a également été déterminée en fonction de la température. On compare tous ces résultats avec la variation en température du rapport des deux petits paramètres de réseau. La corrélation très nette entre tous ces résultats expérimentaux permet de caractériser assez bien les structures moléculaires et leurs changements lors des transitions de phase dans l'état solide.

PACS
6166H - Organic compounds.
6110K - X-ray reflectometry (surfaces, interfaces, films).

Key words
lattice constants -- organic compounds -- plastic crystals -- solid state phase transformations -- X ray diffraction examination of materials -- X ray reflection