Numéro |
J. Phys. France
Volume 42, Numéro 5, mai 1981
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Page(s) | 751 - 757 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphys:01981004205075100 |
J. Phys. France 42, 751-757 (1981)
DOI: 10.1051/jphys:01981004205075100
Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France
6837L - Transmission electron microscopy (TEM) (including STEM, HRTEM, etc.).
Key words
transmission electron microscopy
DOI: 10.1051/jphys:01981004205075100
Etude expérimentale des franges d'interférences au bord des images électroniques inélastiques et quasi-élastiques
Ph. Duval, H. Peyre et L. HenryLaboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France
Abstract
The intensity profiles of Fresnel's fringes observed along the edges of the inelastic and quasi-elastic filtered electronic images show the characteristic Huygens-Fresnel interference patterns when the scattered beams are treated like divergent illumination.
Résumé
Les profils d'intensité des franges de Fresnel observées le long des bords des images électroniques filtrées inélastiques ou quasi-élastiques présentent les caractéristiques prévues par le calcul d'interférence de Huygens-Fresnel lorsque les faisceaux diffusés sont traités comme des faisceaux d'éclairage divergents.
6837L - Transmission electron microscopy (TEM) (including STEM, HRTEM, etc.).
Key words
transmission electron microscopy