Diffraction de Fresnel des electrons diffusés élastiquement et inélastiquement par des écrans semi-transparents

Abstract
The Huygens-Fresnel principle has been used to study the diffraction by an edge of decreasing thickness for a semi-transparent specimen illuminated by an incident electron beam with a small divergence. These calculations explain correctly the general aspect of Fresnel fringes observed in conventional electron microscopy. In addition the model which treats the scattering beam like a divergent illumination allows a description of the different observations on edge fringes of the defocussed inelastic images.

Résumé
L'application du principe de Huygens-Fresnel à l'étude de la diffraction par le bord d'un écran semi-transparent d'épaisseur décroissante éclairé par un faisceau électronique légèrement divergent rend compte de l'allure générale des franges de Fresnel observées en microscopie électronique classique. En outre, la prise en considération du modèle qui consiste à traiter un faisceau diffusé comme un faisceau d'éclairage divergent rend compte de la même façon de diverses observations concernant les franges de bord des images inélastiques défocalisées.