Comparaison entre la luminance et la constante diélectrique complexe pendant la thermoluminescence de ZnS/Cu, Cl

Abstract
The complex dielectric constant of luminescent ZnS/Cu, Cl was studied under U.V. excitation and during thermoluminescence. We show that the observed dielectric dispersions are due to photoconductivity. We emphazise the importance of the distribution of relaxation time ; we take it into account to compute the conduction and we relate it to the energy distribution of traps. We emphasize the ability for a single electron trap level to cause a distribution of relaxation time by its coupling with phonons.

Résumé
On étudie la constante diélectrique complexe de ZnS/Cu, Cl luminescents sous excitation U-V pendant une expérience de thermoluminescence. On montre que les dispersions observées sont dues à la photoconductivité. On met en évidence l'importance de la distribution des temps de relaxation dont on tient compte dans les calculs de conductivité et on la relie à la distribution énergétique des pièges. On note qu'un piège ayant un seul niveau électronique fournit une distribution des temps de relaxation en raison de couplage avec les phonons.