J. Phys. France 25, 291-294 (1964)
DOI: 10.1051/jphys:01964002501-2029100

Utilisation des couches minces a la détermination des constantes optiques de cristaux absorbants dans l'infrarouge

J. Vincent-Geisse

Laboratoire de Recherches Physiques, Département Infrarouge, Sorbonne

Abstract
Optical constants of a solid may be determined by means of a thin layer of a dielectric deposited on an absorbing solid, the reflectance of which is measured before and after the deposition. The method has been applied within strong bands of crystals in the infrared. Some recent results are presented.

Résumé
Le dépôt d'une couche mince d'un diélectrique sur un solide absorbant, permet, par mesure du pouvoir réflecteur avant et après l'évaporation, la détermination des constantes optiques du solide. La méthode a été utilisée à l'intérieur de bandes fortes de cristaux dans l'infrarouge et nous présentons quelques résultats obtenus récemment.

PACS
7820C - Optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity).
4279W - Optical coatings.

Key words
crystal properties -- optical constants -- optical films