Theory of the optical properties of thin polycrystalline metal layers

Abstract
By considering the polycrystalline structure of thin metal layers, reactive as well as resistive components of the sheet impedance can be identified and related to the optical properties. In the cases studied, the reactance has been identified with the inter-grain capacitance and has been related simply to the geometry of the film structure. A final link between the optical properties and the film structure has been achieved with the derivation of an equation by which the grain boundary resistance can be calculated from the basic electronic properties of the material.

Résumé
En faisant intervenir le caractère polycristallin de la structure des couches métalliques minces, on peut expliciter les composantes (réactive aussi bien que résistive) de l'impédance pelliculaire et les relier aux propriétés optiques. Dans les cas étudiés, la réactance a été identifiée à la capacité intergranulaire et reliée d'une manière simple à la structure géométrique du film. La liaison entre les propriétés optiques et la structure du film a été parachevée à l'aide d'une équation dans laquelle la résistance de l'espace frontière entre grains peut être calculée à partir des propriétés électroniques fondamentales de la substance.