Remarques sur la structure des couches métalliques minces déterminée par microscopie électronique

Abstract
The authors indicate a direct method for the determination of the structural parameters affecting the optical properties of very thin metallic layers, the starting-point being the direct counting of the crystallites by electron microscopy. They have been led to suspect the determinations of thickness (determined by weighing in air).

Résumé
Les auteurs indiquent une méthode directe de détermination des paramètres structuraux influençant les propriétés optiques des couches métalliques très minces, à partir du dénombrement direct des cristallites par microscopie électronique. Ils sont amenés à suspecter les déterminations d'épaisseur massique effectuées dans l'air.