| Numéro |
J. Phys. France
Volume 24, Numéro 7, juillet 1963
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| Page(s) | 560 - 564 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphys:01963002407056001 | |
J. Phys. France 24, 560-564 (1963)
DOI: 10.1051/jphys:01963002407056001
Laboratoire de Physique des Solides, Faculté des Sciences, Orsay (Seine et Oise)
6172J - Point defects (vacancies, interstitials, color centers, etc.) and defect clusters.
6110E - X-ray scattering (including small-angle scattering).
Key words
crystal defects -- X ray diffraction -- X ray scattering
DOI: 10.1051/jphys:01963002407056001
Description d'un montage permettant l'étude des défauts ponctuels par diffusion de rayons X
A.M. LevelutLaboratoire de Physique des Solides, Faculté des Sciences, Orsay (Seine et Oise)
Abstract
We have built an apparatus for observing weak X-ray scattering near the incident beam. Very good sensitivity is given by a point focusing system and cylindrical symmetry. It is thus possible to study the distribution of point defects in crystals, if their concentration is large enough.
Résumé
Nous avons mis au point un montage pour observer de faibles diffusions des rayons X autour du faisceau incident. La collimation ponctuelle et la symétrie cylindrique donnent à cet appareil une très grande sensibilité. Il nous est ainsi possible d'étudier la répartitiondes défauts ponctuels dans le réseau si leur concentration est suffisante.
6172J - Point defects (vacancies, interstitials, color centers, etc.) and defect clusters.
6110E - X-ray scattering (including small-angle scattering).
Key words
crystal defects -- X ray diffraction -- X ray scattering