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Journal de Physique

Volume 41 / Numéro 10 (octobre 1980)


Characterisation by X-ray diffraction, electron microscopy and X-ray fluorescence of thin films obtained by evaporation of SmS. Crystallographic structures after annealing with an electron beam
Caractérisation par diffraction X, microscopie électronique et fluorescence X, des couches minces obtenues par évaporation de SmS. Structures cristallographiques après recuits par le faisceau électronique
p. 1127

DOI: https://doi.org/10.1051/jphys:0198000410100112700